Équipement de test automatique

Équipement de test automatique ou l'équipement de test automatique (ATE) est tout appareil qui effectue des tests sur l'équipement, connu sous le nom d'un appareil testé (DUT), l'équipement testé (EUT) ou l'unité testée (UUT), en utilisant l'automatisation pour effectuer rapidement des mesures et tester le Les résultats sont évalués. L'ATE peut être un multimètre numérique simple contrôlé par ordinateur ou un système complexe contenant des dizaines d'instruments de test complexes (équipement de test électronique réel ou simulé) capable de tester et de diagnostiquer automatiquement des composants de package électronique complexes ou des tests de plaquettes. Échec, y compris le système sur puce et les circuits intégrés.

Où il est utilisé

L'ATE est largement utilisée dans l'industrie de la fabrication d'électronique pour tester les composants et les systèmes électroniques après la fabrication.ATE est également utilisé pour tester les modules électroniques dans l'avionique et les automobiles. Il est utilisé dans des applications militaires telles que les communications radar et sans fil.

Dans l'industrie des semi-conducteurs

Les semi-conducteurs ATE, nommés pour tester les dispositifs semi-conducteurs, peuvent tester une large gamme de dispositifs et de systèmes électroniques, des composants simples (résistances, condensateurs et inductances) aux circuits intégrés (ICS), aux panneaux de circuits . Pour cela, les cartes de sonde sont utilisées. Les systèmes sont conçus pour réduire le temps de test nécessaire pour vérifier qu'un équipement particulier fonctionne correctement ou pour trouver rapidement les défauts d'une partie avant d'avoir une chance d'être utilisé dans un consommateur final Produit. Pour réduire les coûts de fabrication et augmenter les rendements, les appareils semi-conducteurs doivent être testés après la fabrication pour empêcher les dispositifs défectueux de tomber entre les mains des consommateurs.

Composants

Une architecture à semi-conducteurs ATE se compose d'un contrôleur maître (généralement un ordinateur) qui synchronise un ou plusieurs instruments source et capture (énumérés ci-dessous). Historiquement, les systèmes ATE ont utilisé des contrôleurs ou des relais conçus personnalisés. Le dispositif testé (DUT) est physiquement connecté à l'ATE via un autre robot appelé processeur ou sonde, et un adaptateur de test d'interface personnalisé (ITA) ou "Fixture " est utilisé pour adapter les ressources de l'ATE au Dut.

PC industriel

Les PC industriels sont des ordinateurs de bureau réguliers dans un package de rack-standard de 19 pouces avec suffisamment de fentes PCI / PCIE pour s'adapter aux cartes de stimulateur de signal / de détection. Géré dans ce PC. La plupart des semi-conducteurs modernes incluent plusieurs instruments contrôlés par ordinateur pour acquérir ou mesurer divers paramètres. Ces instruments peuvent inclure des alimentations d'alimentation (DPS), des unités de mesure paramétriques (PMU), des générateurs de forme d'onde arbitraires (AWGS), des numériseurs, du numérique, du numérique, IO et alimentation électrique. .

Interconnexion de masse

Une interconnexion de masse est une interface de connecteur entre les instruments de test (PXI, VXI, LXI, GPIB, SCXI et PCI) et un appareil / unité sous test (D / UUT). Cette section agit comme un nœud où les signaux entrent et sortent entre le Mangé et le d / uut.

Par exemple, pour mesurer la tension d'un dispositif de semi-conducteur spécifique, un instrument de traitement du signal numérique (DSP) dans l'ATE mesure directement la tension et envoie le résultat à un ordinateur pour le traitement du signal pour calculer la valeur souhaitée. Cet exemple montre que beaucoup ATES ne peut pas utiliser des instruments traditionnels tels que des ampères en raison du nombre limité de mesures que les instruments peuvent effectuer, et le temps nécessaire pour effectuer des mesures avec ces instruments. Un avantage clé de l'utilisation du DSP pour mesurer les paramètres est le temps. Si nous devons calculer le pic Tension du signal électrique et d'autres paramètres du signal, alors nous devons utiliser un détecteur de pointe avec d'autres instruments pour tester les autres paramètres. HowEver, avec un instrument basé sur DSP, le signal est échantillonné et d'autres paramètres peuvent être calculés à partir de une seule mesure.

Exigences des paramètres de test vs temps de test

Tous les appareils ne sont pas testés de manière égale. Les tests ajoutent des coûts, de sorte que les composants à faible coût sont rarement testés complètement, tandis que les composants à coûts médicaux ou élevés (où la fiabilité est importante) sont fréquemment testées.Mais le test de l'appareil pour tous les paramètres peut être nécessaire ou non en fonction de la fonctionnalité de l'appareil et de l'utilisateur final. Par exemple, si l'appareil trouve une application dans des produits médicaux ou vitaux, bon nombre de ses paramètres doivent être testés, et une partie de la Les paramètres doivent être garantis.Mais décider des paramètres à tester est une décision complexe basée sur le coût vs rendement.Si le périphérique est un appareil numérique complexe, avec des milliers de portes, la couverture des défauts de test doit être calculée. La décision est complexe basée sur l'économie des tests, basée sur la fréquence, le nombre et le type d'E / OS dans l'appareil et l'application d'utilisation finale ...